令和7年11月13日（木）、半導体デバイスの高機能化に伴い重要性が増している半導体EMC（電磁両立性）試験 をテーマとしたセミナーを開催いたしました。
セミナーは 第一部をハイブリッド形式（当センター・Zoom）、第二部を当センターのみで実施し、第一部は 名古屋工業大学 特任教授の市川 浩司氏、第二部は株式会社デンケンの田邊 大輔氏 にご登壇いただきました。
第一部では、半導体EMC試験が必要とされる背景や、国際規格（IEC 61967シリーズ、IEC 62132シリーズ）の概要について、初学者にも分かりやすい構成で解説が行われました。半導体の微細化が進む中でEMC課題が顕在化している状況や、試験の位置づけを理解する内容となりました。
続く第二部では、実際の試験装置を用いたデモンストレーションを実施し、150Ω法（IEC 61967-4）やDPI法（IEC 62132-4）といった代表的な評価手法を実際にご覧いただきました。測定の進め方やデータの読み取り方まで踏み込んだ解説が行われました。
参加者からは、半導体EMC試験の背景や重要性について理解が深まったという声が多く寄せられました。また、規格の解説やデモを通じて試験手法の具体的なイメージを掴むことができた点を高く評価する意見も目立ちました。さらに、他のセミナーでは得られなかった新しい知見があったという感想もあり、全体としてセミナー内容の充実度に対する満足度が高い結果となりました。
今後も当センターでは、実務に役立つ研修を企画してまいります。引き続き当センターの技術研修をご活用いただければ幸いです。
（電子・情報担当 竹中）
リスキリング研修に関する情報
https://www.oita-ri.jp/goriyouanai/seminar/reskilling/
研修の様子