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●機器名
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スパイラルTOF
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| ●概 要 |
高分子量の測定や分析対象物の構造解析に使用します
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| ●型 式 |
日本電子/JMS-S3000スパイラルTOFプラス2
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| ●仕 様 |
イオン化方式：マトリクス支援レーザ―脱離イオン化
測定モード：リニア、スパイラル 測定範囲：m/z 4～500,000（リニア）、m/z 4～30,000（スパイラル） |
| ●活用事例 | 県内産業の基盤となる研究開発や製造工場の改善に活用します |
| ●担 当 | 工業化学担当 |
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●機器名
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スパイラルTOF
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| ●概 要 |
高分子量の測定や分析対象物の構造解析に使用します
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| ●型 式 |
日本電子/JMS-S3000スパイラルTOFプラス2
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| ●仕 様 |
イオン化方式：マトリクス支援レーザ―脱離イオン化
測定モード：リニア、スパイラル 測定範囲：m/z 4～500,000（リニア）、m/z 4～30,000（スパイラル） |
| ●活用事例 | 県内産業の基盤となる研究開発や製造工場の改善に活用します |
| ●担 当 | 工業化学担当 |