半導体機器の高機能化・高密度化が進む中で、EMC（電磁両立性）試験の重要性が高まっています。本セミナーでは、半導体を対象としたEMC試験の基礎から最新動向、さらには試験の実演までを通じて、実務に直結する知識をご提供します。ぜひこの機会にご参加ください。
【第一部】１３：００～１４：３０ 半導体EMCの概要
・なぜ今、半導体EMC試験が重要なのか？
・国際規格に基づく試験項目と最新動向の紹介
（IEC 61967シリーズ、IEC 6213シリーズ）
【第二部】１４：３０～１７：００ 半導体EMC試験の実例紹介（デモ）
・代表的な試験例について、実際の試験機を用いたデモンストレーションを予定
・試験データや結果の読み取り方などを解説
令和7年11月13日（木）：13:00～17:00
大分県産業科学技術センター（大分市高江西1-4361-10）/Zoomウェビナー（第一部のみ）
第一部：ハイブリッド開催（現地 第一研修室＋Zoomウェビナー）
第二部：現地参加のみ（現地 Ds-Labo）
名古屋工業大学 特任教授 市川 浩司 氏
株式会社デンケン 田邊 大輔 氏
第一部：35名、第二部：10名（先着順）
無料
令和7年11月6日（木）
上記詳細URLの申込用紙に必要事項を記入してFAXまたはメールにてお申込みください。
または、下記の申込みサイトにてお申し込みください。
https://ttzk.graffer.jp/pref-oita/smart-apply/surveys-alias/emc2025-05
お申込みいただいた内容については、当センターが実施するセミナーの運営管理に利用します。
当日は、セミナーの様子を写真撮影して広報等に使用することがあります。
大分県産業科学技術センター 電子・情報担当 上田
電話 097-596-7101
メール k-ueda【@】oita-ri.jp